失效分析是生產、研發和分析測試的重要技術，對提升產品質量具有重要意義。4月，國星之光大講堂第二期“失效分析概論”專題課程開展后，引發起學員們對失效分析問題的積極探索與思考，反響熱烈。為此，國星光電研究院征集了學員們在實際生產、研發和分析測試中面臨的LED失效問題，進一步開展專門面向LED失效分析的專題授課，近日，國星之光大講堂第四期——“LED失效分析技術及典型案例”如盼而至！

意猶未盡，再度深入LED失效分析

國星之光大講堂第四期——“LED失效分析技術及典型案例”特邀工業和信息化部電子第五研究所分析中心材料可靠性工程部高分子材料項目負責人、正高級工程師徐煥翔專家作專題授課，課堂聚焦熱點，剖析痛點，解決難點，干貨滿滿。來自國星光電研究院、各事業部研發部門和質量部門的100余名國星學員齊聚一堂，再度掀起學習新熱潮！

國星之光大講堂

講堂上，徐煥翔專家結合自身在LED常用材料的失效分析及失效機理研究和可靠性評價領域的豐富經驗，鞭辟入里地講述了LED結構材料及失效模式機理和LED失效分析技術及常用設備，并且結合實際LED失效案例分享了LED失效分析的方法，剖析了LED失效分析的原因。

積極發問，齊研共討攻克難題

“請問靜電孔損傷的定位分析手段有哪些？”

“請問顯微鏡下外觀無異常的小漏電樣品的漏電原因是什么？”

“請問微光顯微鏡的測試原理是什么，能否精準定位到微顯示模組中的缺陷位置？”

學員們根據自身在研發、生產、分析測試中遇到的LED失效分析的實際問題和困難，與徐煥翔專家展開了深入的交流與探討，徐煥翔專家結合自身學術研究和在LED失效分析領域的實踐經歷，進行了精彩的回答，進一步拓寬了學員們的學術視野。課程尾聲，學員們意猶未盡，紛紛表示：“這次課程真的講到自己的心坎上，直擊痛點，拆解難點，收獲頗豐！”、“回去定將今日所學應用于實踐之中！”。

國星光電一直注重科技人才培養，始終致力深耕技術研究，切實推動技術成果轉化及產業化進程，提升企業創新實力和綜合競爭力。截止目前，國星光電已攻克了多項前沿核心技術和共性基礎難題以支撐重大科技項目的實施，開展實施各級政府科研項目達150余項，其中省級以上80余項，已申請專利近千項，已授權專利近700項（含子公司），榮膺國家科技進步獎一等獎、國家科技進步獎二等獎、國家知識產權示范企業等多項榮譽。

未來，國星光電將持續提升自主創新能力，加強技術儲備和人才儲備，為提升我國品牌自主研發實力及國際競爭力貢獻國星力量。